日本国立九州工业大学信息工学研究院温晓青教授学术讲座：LSI Testing: A Core Technology to a Successful Semiconductor Industry

讲座题目：LSI Testing: A Core Technology to a Successful Semiconductor Industry

讲 座 人：温晓青 教授、IEEE Fellow 博士生导师

讲座时间：2023年10月16日 星期一 16:00

讲座地点：励行楼B112

主办单位：电气与信息工程学院

讲座人简介：

温晓青教授，日本九州工业大学博士生导师、IEEE Fellow。于1986年在清华大学获得学士学位；1990年在日本广岛大学获得硕士学位；1993年在日本大阪大学获得博士学位；1993至1997年在秋田大学作助理教授；1995至1996年在美国威斯康星大学作访问学者；1998至2003年在美国华腾科技有限公司任首席技术官一职；2004年加入日本九州工业大学；现为九州工业大学高可靠性集成系统研究中心主任，主要研究方向包括集成电路与系统芯片的可测性设计、低功耗测试、测试生成及故障诊断等。已发表学术论文170余篇，编著学术专著2本，拥有41项美国专利及14项日本专利，并担任IEEE TCAD，IEEE TVLSI等学术杂志的编委以及众多国际会议的程序委员。