讲座题目：The Light and Shadow of Semiconductor Circuits

讲 座 人：Xiaoqing Wen 教授 IEEE Fellow 博士生导师

讲座时间：2023年10月16日 星期一 下午14：30 -16：00

讲座地点：求本楼B403

报告人简介：

温晓青，现任日本九州工业大学教授、博士生导师、IEEE Fellow,1986年获中国清华大学学士学位，1990年获日本广岛大学硕士学位，1993年获日本大阪大学博士学位。1993年至1997年，他担任日本秋田大学的助理教授。1995年10月至1996年3月，在美国威斯康辛大学麦迪逊分校做访问研究员。于1998年加入美国SynTest技术公司，并且并担任首席技术官一直到2003年。2004年加入日本九州工业大学成为集成系统研究中心的教授和主任。研究方向包括芯片可测性设计、测试生成及故障诊断等。已发表学术论文170余篇，编著学术专著2本:“VLSI测试原理和架构:可测性设计”，以及“低功耗器件的功率感知测试和测试策略”。拥有关于VLSI的41项美国专利及14项日本专利，并担任IEEE TCAD，IEEE T-VLSI等学术杂志的编委以及众多国际会议的程序委员。